反射式膜厚量測儀 FE-3000 - 光干涉式膜厚計、量測折射率、光學常數- 大塚科技股份有限公司

光干涉式膜厚計量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光係數)

www.otsuka-tw.com